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Fries Research & Technology GmbH (FRT) bietet Oberflächenmesstechnik von der Forschung bis zur Produktionskontrolle. Die innovativen Geräte vermessen berührungslos und zerstörungsfrei Topographie, Struktur, Stufenhöhe, Rauheit, Verschleiß, Schichtdicke etc. für Unternehmen aus den Branchen Automotive, Halbleiter, Mikrosystemtechnik, Optik, Solar/Photovoltaik und vielen anderen.
Das Unternehmen unterhält Tochtergesellschaften in den USA, China und der Schweiz, ein Vertriebs- und Servicenetz in den USA, Asien und Europa sowie eine Niederlassung in München. |
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 Oberflächenmesstechnik für die Mikrosystemtechnik
Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) ist die Kom- bination aus mechanischen Elementen, Sensoren, Aktoren und elektronischen Schaltun- gen auf einem Substrat bzw. Chip. MEMS finden sich in vielen Bereichen wie z.B. Automotive, Consumer Electronics und Live Sciences. Diese Broschüre zeigt Oberflächen- messgeräte, die zur Entwicklung und Qualitäts- kontrolle in der Produktion eingesetzt werden.
(PDF, ca. 3 MB)
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 Oberflächenmesstechnik für die Automobilindustrie
Die Automobilindustrie steht bei der hochpräzisen Vermessung von innovativen Produkten vor neuen Herausforderungen. Produkteigenschaften werden heute maßgeblich durch gezielt strukturierte Oberflächen und kleine Bauteilgeometrien gesteuert. Die nötigen Informationen liefert optische Messtechnik, die herkömmlichen Tast-Systemen immer häufiger überlegen ist.
(PDF, ca. 4 MB)
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 Oberflächenmesstechnik für die Solarbranche
Die Photovoltaikbranche ist um ständige Verbesserung ihrer Produkte und Optimierungen des Herstellungsprozesses
bemüht. Oberflächenmess- technik kann dazu beitragen, diese Ziele zu erreichen. Diese Informations- broschüre gibt einen Einblick in typische Anwendungen der FRT Messtechnik für die Bereiche F&E, Qualitätssicherung und automatische Produktionskontrolle.
(PDF, ca. 1,7 MB)
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 Oberflächenmesstechnik für die Halbleiterindustrie
Hersteller von Halbleiter- und Elektronikprodukten setzen auf Miniaturisierung, um die Produkt- leistung zu steigern und Stück- kosten zu senken. Ob Rohwafer, strukturierter Wafer, IC oder bestückte Platine - Oberflächenmesstechnik von
FRT kommt in vielen Anwendungsbereichen zum Einsatz. Diese Informationsbroschüre stellt die interessantesten Applikationen kurz vor.
(PDF, ca. 2,3 MB)
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 Konfokalmikroskop erhält Industriepreis
Das konfokale Mikroskop MicroSpy® Topo hat kürzlich den Industrie- preis 2008 der Initiative Mittelstand erhalten. Das Mikroskop ist das erste Gerät einer Economy- Messgeräteserie, welches sich durch besondere Wirtschaftlichkeit auszeichnet und damit ein optimales Einsteigersystem für Anwendungen in den Bereichen F&E und Produktion darstellt. Mehr... |
 Metrology for Front End (Produktfilm ansehen)
Die FRT Messgeräteserie MFE (Metrology for Front End) richtet sich an die Hersteller von strukturierten Wafern, Masken, MEMS und Ähnlichem. Um dem Bedarf gerecht zu werden, handelt es sich ausschließlich um Geräte für den Einsatz im Reinraum. Die Messmethoden werden auf die jeweilige Aufgabe abgestimmt. Mehr... |
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Dienstag, den 7. Oktober 2008
Vertriebskooperation von FRT und Euris besiegelt
Vertrag wird auf der Semicon Europa 2008 unterzeichnet Mehr...
Montag, den 29. September 2008
FRT-Messsysteme für höchste Anforderungen:
FRT greift auf der Semicon Europa 2008 zwei wichtige Trends in der Oberflächenmessung auf Mehr...
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COMPAMED 2008, November 2008
Parallel zur weltgrößten Medizinmesse MEDICA präsentieren die Aussteller ein umfangreiches Spektrum an Hightech-Lösungen – von neuen Materialien, Mehr...
SEMICON Japan, Dezember 2008
Since 1977, SEMICON© Japan, the world's largest exposition of semiconductor equipment and materials, has been connecting exhibitors from around the Mehr...
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Die FRT Geschäftsbereiche
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FRT bietet universelle oder speziell auf den jeweiligen Einsatz ausgerichtete Messsysteme.
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FRT entwickelt Prozesskontrollsysteme, die individuell auf die jeweiligen Anforderungen innnerhalb der Fertigung zugeschnitten sind.
Mehr ... |
FRT bietet sorgfältige, umfassende Analysen, ausführliche kompetente Beratung sowie Schulungen im Bereich Metrologie.
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