FRT CFM - Sensor für Konfokalmikroskopie


Das im FRT CFM eingesetzte konfokale Messprinzip ist ein bewährtes, berührungsloses Messverfahren für die sehr schnelle und hochaufgelöste 3D-Messung von kleinen Strukturen in den Bereichen Forschung und Produktion wie z.B. MEMS, Mikrolinsen, Defekte und vieles mehr. Neben der Untersuchung von Mikrostrukturen, wird der Sensor für Rauheitsmessungen und zur Erfassung und Auswertung der 3D-Topographie eingesetzt. Dank des flächenhaft arbeitenden, konfokalen Messverfahrens liegen aussagekräftige Ergebnisse in weniger als 10 Sekunden vor. Die Messfeldgröße kann durch die integrierte Stitching-Funktion erweitert werden.

Eigenschaften

  • Optische, berührungslose, zerstörungsfreie Messung
  • Sehr schnelle, flächenhafte 3D-Messung
  • Nanometer Höhenauflösung, sub-Mikrometer Lateralauflösung
  • Erweiterbares Messfeld durch Stitching
  • Langlebige und wartungsarme LED Lichtquelle



Typische Anwendungen

  • Strukturmessung
  • Rauheitsmessung
  • 3D-Topographiemessung

 

FRT CFM - Sensor für Konfokalmikroskopie 


Technische Daten

Objektiv 1) 10X 20X 50X 100X
Arbeitsabstand 1 mm
Auflösung z 10 nm 3 nm 2 nm 1 nm
Auflösung x,y 2,31 µm 1,16 µm 0,463 µm / 0,42 µm 2) 0,231 µm / 0,37 µm 2)
Messfeld 1780 µm x 1335 µm 890 µm x 655 µm 356 µm x 267 µm 178 µm x 134 µm
Numerische Apertur 0,5 0,75 0,8 0,9
Messwinkel 90° ± 30° 90° ± 48° 90° ± 53° 90° ± 64°
1) Weitere Objektive erhältlich (z.B. Long-Distance)
2) Geometrisch / optisch
Sensor
Kamera 768 x 582 Pixel
Verfahrweg z 400 µm
Typische Messzeit 5 - 10 Sek.
Lichtquelle LED, 505 nm, 5 W
Betriebstemperatur 25° C ± 2° C
Abmessungen (B x H x T) 140 mm x 450 mm x 140 mm
 
Lieferumfang
Messkopf, ein Objektiv nach Wahl, Handbuch