Vielseitig einsetzbar
- Raue, reflektierende und transparente Oberflächen messbar
- Hohe Winkelakzeptanz
- Messfeldgröße durch Stitching-Funktion erweiterbar
Das in diesem Messgerät eingesetzte konfokale Messprinzip ist ein bewährtes, zerstörungsfreies Verfahren für die Analyse von Rauheit, Kontur und Topographie an einer Vielzahl von Proben im Labor - und Produktionsbereich.
Schneller und intuitiver Messvorgang
- In nur 5 Arbeitsschritten zu hochauflösenden Messdaten
- Typische Messzeiten von weit unter einer Minute
Intuitive Bedienung und kurze Messzeiten sind neben höchster Präzision die vorrangigen Ziele für die Entwicklung von FRT Messgeräten. Nur so wird der Bediener schnell in die Lage versetzt, produktive wie aussagekräftige Analysen und Berichte zu erstellen.
Leistungsfähige Hard- und Software
- Hervorragende Höhenauflösung im Nanometerbereich
- Exzellente Tiefenschärfe frei von defokussierten Bildteilen
- Langlebige und wartungsarme LED Lichtquelle
- Umfangreiches Softwarepaket zur Datenerfassung, Analyse und Aufbereitung von Berichten
Zum Lieferumfang des MicroSpy® Topo gehören das Mess- gerät mit motorisiertem x,y-Verfahrtisch zur Probenpositio- nierung, ein leistungsfähiger PC mit TFT Monitor sowie ein Benutzerhandbuch.
Bemerkenswert in dieser Klasse von Konfokalmikroskopen ist der vollständige Aufbau aus Granit. Damit wird, wie bei allen Produkten aus dem Hause FRT, eine maximale System- und Temperaturstabilität sichergestellt.
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Der FRT MicroSpy® Topo ist das budget- freundliche Konfokalmikroskop für schnelle und zerstörungsfreie Oberflächenanalysen. Jetzt unverbindliches Angebot anfordern
Der MicroSpy® Topo zeichnet sich durch eine hohe Winkelakzeptanz und Unempfindlich- keit gegenüber rauen, reflektierenden und transparenten Proben aus.
Rückseitenmetallisierung eines Solarwafers (L), Riefe in Wafer-Polierscheibe (R)
Präzisions-Linearmaßstab aus Glas (L), Rillenkalibriernormal (R)
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