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 | | Der konoskopische Sensor wird für die berührungslose Messung von technischen Oberflächen eingesetzt. Er arbeitet auf stark absorbierenden wie auch reflektierenden Materialien. Es können stark strukturierte, raue aber auch glatte (jedoch keine spiegelnden) Objekte erfasst werden. Die Messung erfolgt koaxial, so dass auch an stark strukturieren Teilen keine Abschattungseffekte auftreten. Es erfolgt eine Punktmessung mit Laserlicht. Der FRT CSL zeichnet sich durch seinen großen Arbeitsabstand, den hohen Messbereich sowie die Fähigkeit, auch auf stark geneigten Oberflächen zu messen aus. Mit diesen Eigenschaften eignet sich der Sensor insbesondere für die Messung von Objekten mit steilen Flanken (z.B. Zahnräder) sowie auch für die Messung in Sacklöchern oder an schwer zugänglichen Stellen, die nur aus großem Abstand erfasst werden können. Für die Rauheitsmessung ist der Sensor nicht geeignet. Bei der konoskopischen Abstandsmessung wird ein Laserstrahl auf das Messobjekt gerichtet. Das an der Oberfläche gestreute und vom Messkopf erfasste Licht durchläuft einen doppelbrech- enden Kristall. Wegen der unterschiedlichen Ausbreitungsge- schwindigkeit von ordentlichem und außerordentlichem Strahl erhält man zwei Wellenfronten, die auf einem Analysator inter- ferieren. Aus dem Interferenzbild wird der Abstand zum Messobjekt bestimmt. Die Messdaten können an einem Analogausgang abgegriffen und über die Druckerschnittstelle zum PC übertragen werden. Die mitgelieferte Windows-Software ermöglicht die Einstellung des Sensors sowie die Anzeige des aktuellen Messwertes. Zur Integration des Sensors in bestehende Messsysteme werden die erforderlichen Treiber mitgeliefert.
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Konoskopischer Sensor CSL
CSL Messung an einer Nockenwelle
Messbeispiele an einem Reifen|
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- Produktionskontrolle in der Automobilindustrie,
z.B. Interieur, Zylinder, Wellen, Elektronik - Profilmessungen zur Charakterisierung von Zahnrädern
- Topographiemessung am Boden von Pumpengehäusen
- Kontrolle von Tiefen in Sacklöchern
- Bestimmung von Abmessungen, Stufenhöhen und Winkeln –
auch an stark strukturierten Werkzeugen und Komponenten |
| Messprinzip | konoskopische Holographie | | Lichtquelle | Laserdiode, Klasse 1 | | Objektivbrennweite | 25 mm | 50 mm | 75 mm | 100 mm | | Messbereich z | 1,8 mm | 8 mm | 18 mm | 35 mm | | Messabstand | 15 mm | 42 mm | 65 mm | 90 mm | | Auflösung z | < 0,4 µm | < 1 µm | < 2 µm | < 4 µm | | Auflösung x* | 12 µm | 15 µm | 25 µm | 35 µm | | Messwinkel zur Oberfläche | ca. 90 ° ± 70 ° |
* Wegen des elliptischen Messflecks ist die Auflösung in x-Richtung höher als in y-Richtung.
Technische Änderungen vorbehalten. |
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