Aus dem Inhalt:
Bedeutung der Charakterisierung von Oberflächen/Rauheit in der Technik

An Beispielen aus der Praxis wird die Bedeutung der Oberfläche und deren Charakterisierung für das Produkt demonstriert.

Messtechnik zur Bestimmung der Topographie I
Verschiedene Methoden zur Messung der Topographie von technischen Oberflächen werden vorgestellt (Lichtmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Tastschnittverfahren, konfokale Messverfahren, Interferometrie etc.). Nach einer Skizzierung des zugrunde liegenden Messprinzips werden die Möglichkeiten und Einschränkungen der verschiedenen Verfahren in unterschiedlichen Anwendungsgebieten präsentiert. In einer Übungsphase besteht für die Teilnehmer die Möglichkeit, am Beispiel konkreter Messaufgaben die Vor- und Nachteile der dargestellten Verfahren zu diskutieren.

Bewerten von Oberflächen I und II
Hier werden die für die Bewertung der Topographie von Oberflächen relevanten Aspekte wie Auswahl des Messbereichs, Unterschied im Informationsgehalt, Profil/3D-Messung und Filterung der Messdaten behandelt. Die wichtigsten Kennwerte (Rauheit, Welligkeit etc.) werden erläutert und mit Anwendungsbeispielen verdeutlicht. Aufbauend auf dem Höhenhistogramm und der Traglastkurve wird auch auf Parameter wie Kernrautiefe oder Materialanteile eingegangen. Im abschließenden Übungsteil können die Teilnehmer die erlernten theoretischen Inhalte an praktischen Beispielen gemeinsam vertiefen und ihr neu erworbenes Wissen überprüfen. Die Seminargebühr umfasst neben den Vorträgen, ausführliche Schulungsunterlagen, kalte und warme Getränke sowie ein gemeinsames Mittagessen. Kostenbeitrag: 750 Euro pro Person. Bitte wenden Sie sich bei weiteren Fragen oder für Ihre Anmeldung an Frau Ulrike Pisarski, Telefon: +49 (0)2204 - 84 24 30