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Fries Research & Technology GmbH (FRT) bietet Oberflächenmesstechnik von der Forschung bis zur Produktionskontrolle. Die innovativen Geräte vermessen berührungslos und zerstörungsfrei Topographie, Struktur, Stufenhöhe, Rauheit, Verschleiß, Schichtdicke etc. für Unternehmen aus den Branchen Automotive, Halbleiter, Mikrosystemtechnik, Optik, Solar/Photovoltaik und vielen anderen.
Das Unternehmen unterhält Tochtergesellschaften in den USA, China und der Schweiz, ein Vertriebs- und Servicenetz in den USA, Asien und Europa sowie eine Niederlassung in München. |
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Oberflächenmesstechnik für die Mikrosystemtechnik
Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) ist die Kom- bination aus mechanischen Elementen, Sensoren, Aktoren und elektronischen Schaltun- gen auf einem Substrat bzw. Chip. MEMS finden sich in vielen Bereichen wie z.B. Automotive, Consumer Electronics und Live Sciences. Diese Broschüre zeigt Oberflächen- messgeräte, die zur Entwicklung und Qualitäts- kontrolle in der Produktion eingesetzt werden. (PDF, ca. 3 MB) |
Oberflächenmesstechnik für die Automobilindustrie
Die Automobilindustrie steht bei der hochpräzisen Vermessung von innovativen Produkten vor neuen Herausforderungen. Produkteigenschaften werden heute maßgeblich durch gezielt strukturierte Oberflächen und kleine Bauteilgeometrien gesteuert. Die nötigen Informationen liefert optische Messtechnik, die herkömmlichen Tast-Systemen immer häufiger überlegen ist. (PDF, ca. 4 MB) |
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Oberflächenmesstechnik für die Solarbranche
Die Photovoltaikbranche ist um ständige Verbesserung ihrer Produkte und Optimierungen des Herstellungsprozesses bemüht. Oberflächenmess- technik kann dazu beitragen, diese Ziele zu erreichen. Diese Informations- broschüre gibt einen Einblick in typische Anwendungen der FRT Messtechnik für die Bereiche F&E, Qualitätssicherung und automatische Produktionskontrolle. (PDF, ca. 1,7 MB) |
Oberflächenmesstechnik für die Halbleiterindustrie
Hersteller von Halbleiter- und Elektronikprodukten setzen auf Miniaturisierung, um die Produkt- leistung zu steigern und Stück- kosten zu senken. Ob Rohwafer, strukturierter Wafer, IC oder bestückte Platine - Oberflächenmesstechnik von FRT kommt in vielen Anwendungsbereichen zum Einsatz. Diese Informationsbroschüre stellt die interessantesten Applikationen kurz vor. (PDF, ca. 2,3 MB) |
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Konfokalmikroskop erhält Industriepreis
Das konfokale Mikroskop MicroSpy® Topo hat kürzlich den Industrie- preis 2008 der Initiative Mittelstand erhalten. Das Mikroskop ist das erste Gerät einer Economy- Messgeräteserie, welches sich durch besondere Wirtschaftlichkeit auszeichnet und damit ein optimales Einsteigersystem für Anwendungen in den Bereichen F&E und Produktion darstellt. Mehr... |
Metrology for Front End (Produktfilm ansehen)
Die FRT Messgeräteserie MFE (Metrology for Front End) richtet sich an die Hersteller von strukturierten Wafern, Masken, MEMS und Ähnlichem. Um dem Bedarf gerecht zu werden, handelt es sich ausschließlich um Geräte für den Einsatz im Reinraum. Die Messmethoden werden auf die jeweilige Aufgabe abgestimmt. Mehr... |
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Montag, den 8. Dezember 2008
FRT auf der 1. Rusnanotech: Oberflächenmessungen „Made in Germany“ auf dem Wachstumsmarkt Russland Mehr...
Mittwoch, den 3. Dezember 2008
Valery Vengrinovich erhält Barkhausen-Award 2008 Mehr...
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MEDTEC Europe - The premier trade fair
for the medical device manufacturing industry, März 2009
MEDTEC Europe is the premier trade fair for the medical device manufacturing industry. This powerful resource event provides the opportunity for Mehr...
SEMICON China, März 2009
SEMICON China connects you to the world’s fastest-growing and most dynamic microelectronics market, and gives you the platform to showcase your Mehr...
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Die FRT Geschäftsbereiche
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FRT bietet universelle oder speziell auf den jeweiligen Einsatz ausgerichtete Messsysteme. Mehr...
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FRT entwickelt Prozesskontrollsysteme, die individuell auf die jeweiligen Anforderungen innnerhalb der Fertigung zugeschnitten sind. Mehr ... |

FRT bietet sorgfältige, umfassende Analysen, ausführliche kompetente Beratung sowie Schulungen im Bereich Metrologie. Mehr ... |
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